Контактный телефон

phone +77470958710
Заказать звонок

Выбрать регион

Казахстан Казахстан
menu

Контактный телефон

Выбрать регион

Казахстан Казахстан

Выбрать язык

language ru
Вернуться назад
Выбрать регион
Вернуться назад
Выбрать язык

Отправить запрос

Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп SPECTRA Ultra STEM

Производитель:Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп SPECTRA Ultra STEM

Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп SPECTRA Ultra STEM

Производитель:Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп SPECTRA Ultra STEM

Сканирующий трансмиссионный электронный микроскоп для визуализации и спектроскопии чувствительных к электронному пучку материалов.

consult

Отправьте нам заявку и наши специалисты помогут Вам разобраться во всех интересующих вопросах, касательно нашего оборудования и дополнительных услуг.

Технические характеристики
Видеоматериалы
Брошюра с информацией
Расширенное описание

Технические характеристики

 

Технический параметр

Значение

Без коррекции

  • Диапазон энергии: 0,2–0,3 эВ
  • Информационный предел: <100 пм
  • Разрешение STEM: <136 пм

С коррекцией зонда

  • Диапазон энергии: 0,2–0,3 эВ
  • Информационный предел: <100 пм
  • Разрешение STEM: <50 пм (125 пм при 30 кВ)

С коррекцией зонда и изображения + X-FEG/Mono

  • Диапазон энергии: 0,2–0,3 эВ
  • Информационный предел: <60 пм
  • Разрешение STEM: <50 пм при 300 кВ с >30 пА тока зонда
    Разрешение STEM: <125 пм при 30 кВ с >20 пА тока зонда

С коррекцией зонда и изображения + X-FEG/UltiMono

  • Диапазон энергии: 0,05 эВ (0,025 эВ при 60 кВ)
  • Информационный лимит: <60 пм
  • Разрешение STEM: <50 пм при 300 кВ >30 пА тока зонда
    Разрешение STEM: <125 пм при 30 кВ с >20 пА тока зонда

С коррекций зонда и изображения + X-CFEG

  • Диапазон энергии: 0,4 эВ
  • Информационный лимит: <70 пм
  • Разрешение STEM: <50 пм (<136 пм @ 30 кВ) с >100 пА тока зонда

Варианты конфигурации источника электронов

  • X-FEG Mono: полевой излучатель Шоттки и монохроматор с диапазоном настраиваемого энергетического разрешения от 1 эВ до <0,2 эВ
  • X-FEG UltiMono: полевая пушка Шоттки с ультрастабильным монохроматором и ускоряющим напряжением с перестраиваемым диапазоном разрешения энергии от 1эВ до <0,05 эВ (<0,025 еВ @ 60 кВ)
  • X-CFEG: Сверхвысокая яркость с внутренним энергетическим разрешением <0,4 эВ при 14нА общего тока луча и <0,3 эВ при общем токе луча 2 нА
  • Гибкий диапазон высокого напряжения от 30 до 300 кВ

 

Видеоматериалы

Брошюра с информацией

Расширенное описание

Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп (STEM) Spectra Ultra для передачи.

Для эффективной оптимизации изображений TEM и STEM, EDX и EELS требуется захват сигналов при разных ускоряющих напряжениях. Правила могут варьироваться от образца к образцу, но общепризнано, что: 1) лучшая визуализация выполняется при максимально возможном ускоряющем напряжении, выше которого произойдет видимое повреждение, 2) EDX, особенно при картировании, выигрывает от более низких напряжений с увеличенными сечениями ионизации, тем самым оптимизируя карты отношения сигнал-шум для данной общей дозы, и 3) EELS лучше всего работает при высоких напряжениях, чтобы избежать множественного рассеяния, что ухудшает сигнал EELS с увеличением толщины образца.

К сожалению, получение при разных ускоряющих напряжениях на одном и том же образце без потери интересующей области - все это во время одного сеанса микроскопии - невозможно. По крайней мере, до сих пор.

ПредставляемThermo Scientific Spectra 300 S/TEM:

•         Может работать при различных напряжениях (все напряжения от 30 до 300 кВ, для которых были приобретены выравнивания) в рамках одного сеанса микроскопии

•         Переход от ускоряющего напряжения к любому другому занимает около 5 минут

•         Это позволило реализовать новую концепцию EDX с телесным углом 4,45 срад (4,04 срад - с аналитическим двойным наклоном)

С новым Spectra Ultra S/TEM ускоряющее напряжение становится регулируемым параметром, как и ток зонда, а массивная система Ultra-X EDX позволяет проводить химическую характеристику материалов, слишком чувствительных к лучу в рамках обычного анализа EDX.

Spectra Ultra с коррекцией аберрации S/TEM предлагает ведущий в отрасли уровень возможностей характеристики для материаловедения и полупроводниковых применений с самым высоким разрешением на самых разных образцах.

Построен на ультрастабильном фундаменте

Spectra Ultra S/TEM поставляется на платформе, предназначенной для обеспечения беспрецедентного уровня качества механической стабильности за счет пассивной и (опциональной) активной вибрационной изоляции.

Как и Thermo Scientific Spectra 200 S/TEM и Spectra 300 S/TEM, система размещена в полностью обновленном корпусе со встроенным экранным дисплеем для удобной загрузки и удаления образцов. Впервые полная модульность и возможность апгрейда предложены между конфигурациями ПЭМ с переменной высотой, что обеспечивает максимальную гибкость для различных габаритов комнаты комнаты.

Похожие товары