Контактный телефон

phone +77470958710
Заказать звонок

Выбрать регион

Казахстан Казахстан
menu

Контактный телефон

Выбрать регион

Казахстан Казахстан

Выбрать язык

language ru
Вернуться назад
Выбрать регион
Вернуться назад
Выбрать язык

Отправить запрос

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп с двойным лучом Scios 2

Производитель:Thermo Fisher Scientific, США

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп с двойным лучом Scios 2

Производитель:Thermo Fisher Scientific, США

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом для сверхвысокого разрешения, высококачественной подготовки образцов и трехмерного определения характеристик

consult

Отправьте нам заявку и наши специалисты помогут Вам разобраться во всех интересующих вопросах, касательно нашего оборудования и дополнительных услуг.

Технические характеристики
Брошюра с информацией
Расширенное описание

Технические характеристики

Технический параметр

Значение

Разрешение электронного пучка

  • Оптимальное рабочее расстояние (WD)
  • 0.7 нм при 30 кэВ в режиме STEM
  • 1.4 нм при 1 кэВ
  • 1.2 нм при 1 кэВ с торможением пучка

Параметры электронного пучка

  • Диапазон тока пучка: 1 пА до 400 нА
  • Диапазон энергии посадки: 20* эВ – 30 кэВ
  • Диапазон ускоряющего напряжения: 200 В – 30 кВ
  • Максимальная ширина горизонтального поля: 3.0 мм при 7 мм WD и 7.0 мм при 60 мм WD
  • Доступность сверхширокого поля зрения (1×) через стандартный монтаж навигации

Ионная оптика

  • Ускоряющее напряжение: 500 В – 30 кВ
  • Диапазон тока пучка: 1.5 пА – 65 нА
  • 15-позиционная апертурная полоса
  • Режим подавления дрейфа по умолчанию для некондуктивных образцов
  • Минимальный срок службы источника: 1,000 часов
  • Разрешение ионного пучка: 3.0 нм при 30 кВ с использованием метода выборочного края

Детекторы

  • Система детекции Trinity (в линзе и в колонне)
  • T1 сегментированный нижний детектор в линзе
  • T2 верхний детектор в линзе
  • T3 выдвижной детектор в колонне (опционально)
  • До четырех одновременно детектируемых сигналов
  • Детектор вторичных электронов Everhart-Thornley (ETD)
  • Высокопроизводительный ионный преобразователь и электронный (ICE) детектор для вторичных ионов (SI) и электронов (SE) (опционально)
  • Выдвижной детектор обратного рассеяния электронов (DBS) с низким напряжением и высоким контрастом, сегментированный, твердотельный (опционально)
  • Выдвижной детектор STEM 3+ с сегментами BF/DF/HAADF (опционально)
  • Инфракрасная камера для наблюдения за образцом и камерой
  • Навигационная камера Nav-Cam в камере (опционально)
  • Интегрированное измерение тока пучка

Стол и образец

  • Гибкий 5-осевой моторизованный стол:
  • Диапазон XY: 110 мм
  • Диапазон Z: 65 мм
  • Вращение: 360° (непрерывное)
  • Диапазон наклона: -15° до +90°
  • Повторяемость XY: 3 мкм
  • Макс. высота образца: Просвет 85 мм до эвцентрической точки
  • Макс. вес образца при 0° наклоне: 5 кг (включая держатель образца)
  • Макс. размер образца: 110 мм с полным вращением (больший образец возможен с ограниченным вращением)
  • Компьюцентрическое вращение и наклон

Брошюра с информацией

Расширенное описание

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом для сверхвысокого разрешения, высококачественной подготовки образцов и трехмерного определения характеристик Scios 2

Thermo Scientific Scios 2 DualBeam – это ультра-высокое разрешение аналитической системы сканирующей электронной микроскопии с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM), которая обеспечивает превосходную подготовку образцов и 3D-характеризацию для широкого диапазона образцов, включая магнитные и некондуктивные материалы. Благодаря инновационным функциям, разработанным для повышения производительности, точности и удобства использования, Scios 2 DualBeam является идеальным решением для удовлетворения потребностей ученых и инженеров в области передовых исследований и анализа в академических, государственных и промышленных исследовательских средах.

Основные преимущества:

Быстрая и легкая подготовка высококачественных образцов для ТЕМ и атомных зондов с использованием ионной колонки Sidewinder HT

Ультравысокое разрешение изображений: Используйте электронную колонку Thermo Scientific NICol для выдающейся производительности на широком спектре образцов, включая магнитные и непроводящие материалы.

Полная информация о образце: Получение детального, четкого и беззарядного контраста благодаря интегрированным детекторам внутри колонки и под объективом.

Мультимодальная информация о подповерхности и 3D: Доступ к высококачественным данным с точным нацеливанием на области интереса с использованием опционального программного обеспечения AS&V4.

Точная навигация по образцам: Настройка навигации в соответствии с конкретными потребностями приложения с помощью высокофлексибельной стадии 110 мм и камеры Thermo Scientific Nav-Cam в камере.

Изображение и паттернизация без артефактов: Использование специальных режимов, таких как DCFI, подавление дрейфа и режимы Thermo Scientific SmartScan, для чистого изображения и паттернизации.

Гибкая конфигурация DualBeam: Оптимизация решений для удовлетворения различных требований приложений благодаря гибкой конфигурации DualBeam.