Казахстан
ru
Производитель:Thermo Fisher Scientific, США
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр K-Alpha
Производитель:Thermo Fisher Scientific, США
Достигайте результатов исследования с минимальными усилиями. РФЭС спектрометр Thermo Scientific™ K-Alpha™ (XPS) представляет собой полностью интегрированную XPS систему с микрофокусировкой и профилированием по глубине. Отличная производительность, снижение стоимости владения, простота использования и компактный размер делают систему идеальной для многопользовательской среды.
Расширенное описание
РФЭС для повышения производительности
K-Alpha обеспечивает значительно улучшенную спектроскопическую производительность. Решения и концепция прибора приводит к более быстрому времени анализа, улучшенному обнаружению элементов и возможности получения данных с более высоким разрешением, что обеспечивает лучшую идентификацию химического состояния.
Аналитические опции включают модуль вакуумной передачи для перемещения чувствительных к воздуху образцов из перчаточного ящика в систему и модуль наклона для сбора данных ARXPS. Оснащенный системой данных Thermo Scientific™ Avantage, полной программной системой анализа поверхности, K-Alpha имеет ряд программных функций, предназначенных для оптимизации интерпретации данных, отчетности и удобства использования. Система K-Alpha XPS отвечает требованиям как опытных аналитиков XPS, так и новичков в методе, объединяя высокопроизводительное профилирование XPS и с интеллектуальной автоматизацией и интуитивно понятным управлением.
Мощная производительность
- Спектроскопия локальной области (РФЭС микроскопия)
- Профилирование по глубине ионным трафление
- Микро-сфокусированный монохроматор
- Построение карт
- Спектроскопия химического состояния с высоким разрешением
- Анализ диэлектриков
- Количественная химическая визуализация
Непревзойденная простота использования
- Захват — спектры, изображения, профили, линейное сканирование
- Интерпретация — идентификация элементарного и химического состояния
- Обработка - Количественная идентификация, пиковая подгонка, отображение профиля в режиме реального времени, обработка спектрального изображения, PCA, фазовый анализ, TFA, NLLSF, удаление PSF, наложения оптических/РФЭС изображений
- Отчетность - автоматическая генерация отчетов с простым экспортом в другие пакеты программного обеспечения
- Управление — все оборудование управляется из программного интерфейса Avantage
- Avantage Indexer — управление архивом данных
- Журнал аудита
- Ведение журнала производительности системы
- Калибровка по требованию
- Полностью удаленная работа при необходимости
Основные свойства
- Анализатор — полусферический анализатор с двойной фокусировкой на 180° и 128-канальным детектором
- Источник рентгеновского луча - микрофокусированный монохроматор Al Ka с переменным размером пятна
- Ионный источник — Диапазон энергии 100-4000 эВ
- Компенсация заряда
- Размер образца— 4-осевой манипулятор, площадь образца 60 x 60 мм, максимальная толщина образца 20 мм
- Опции – модуль переноски, модуль наклона для ARXPS, модуль смещения образца
