Order a call

Select a region

Kazakhstan Kazakhstan
menu

Сontact number

Select a region

Kazakhstan Kazakhstan

Select a language

language en
Go back
Select a region
Go back
Select a language

Send request

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп с двойным лучом Scios 2

Manufacturer:Thermo Fisher Scientific, США

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп с двойным лучом Scios 2

Manufacturer:Thermo Fisher Scientific, США

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом для сверхвысокого разрешения, высококачественной подготовки образцов и трехмерного определения характеристик

consult

Send us a request and our experts will help you to understand all the issues of interest.

Технические характеристики
Брошюра с информацией
Расширенное описание

Технические характеристики

Технический параметр

Значение

Разрешение электронного пучка

  • Оптимальное рабочее расстояние (WD)
  • 0.7 нм при 30 кэВ в режиме STEM
  • 1.4 нм при 1 кэВ
  • 1.2 нм при 1 кэВ с торможением пучка

Параметры электронного пучка

  • Диапазон тока пучка: 1 пА до 400 нА
  • Диапазон энергии посадки: 20* эВ – 30 кэВ
  • Диапазон ускоряющего напряжения: 200 В – 30 кВ
  • Максимальная ширина горизонтального поля: 3.0 мм при 7 мм WD и 7.0 мм при 60 мм WD
  • Доступность сверхширокого поля зрения (1×) через стандартный монтаж навигации

Ионная оптика

  • Ускоряющее напряжение: 500 В – 30 кВ
  • Диапазон тока пучка: 1.5 пА – 65 нА
  • 15-позиционная апертурная полоса
  • Режим подавления дрейфа по умолчанию для некондуктивных образцов
  • Минимальный срок службы источника: 1,000 часов
  • Разрешение ионного пучка: 3.0 нм при 30 кВ с использованием метода выборочного края

Детекторы

  • Система детекции Trinity (в линзе и в колонне)
  • T1 сегментированный нижний детектор в линзе
  • T2 верхний детектор в линзе
  • T3 выдвижной детектор в колонне (опционально)
  • До четырех одновременно детектируемых сигналов
  • Детектор вторичных электронов Everhart-Thornley (ETD)
  • Высокопроизводительный ионный преобразователь и электронный (ICE) детектор для вторичных ионов (SI) и электронов (SE) (опционально)
  • Выдвижной детектор обратного рассеяния электронов (DBS) с низким напряжением и высоким контрастом, сегментированный, твердотельный (опционально)
  • Выдвижной детектор STEM 3+ с сегментами BF/DF/HAADF (опционально)
  • Инфракрасная камера для наблюдения за образцом и камерой
  • Навигационная камера Nav-Cam в камере (опционально)
  • Интегрированное измерение тока пучка

Стол и образец

  • Гибкий 5-осевой моторизованный стол:
  • Диапазон XY: 110 мм
  • Диапазон Z: 65 мм
  • Вращение: 360° (непрерывное)
  • Диапазон наклона: -15° до +90°
  • Повторяемость XY: 3 мкм
  • Макс. высота образца: Просвет 85 мм до эвцентрической точки
  • Макс. вес образца при 0° наклоне: 5 кг (включая держатель образца)
  • Макс. размер образца: 110 мм с полным вращением (больший образец возможен с ограниченным вращением)
  • Компьюцентрическое вращение и наклон

Брошюра с информацией

Расширенное описание

Сканирующий (растровый) электронный микроскоп с фокусированным ионным лучом для сверхвысокого разрешения, высококачественной подготовки образцов и трехмерного определения характеристик Scios 2

Thermo Scientific Scios 2 DualBeam – это ультра-высокое разрешение аналитической системы сканирующей электронной микроскопии с фокусированным ионным пучком (FIB-SEM), которая обеспечивает превосходную подготовку образцов и 3D-характеризацию для широкого диапазона образцов, включая магнитные и некондуктивные материалы. Благодаря инновационным функциям, разработанным для повышения производительности, точности и удобства использования, Scios 2 DualBeam является идеальным решением для удовлетворения потребностей ученых и инженеров в области передовых исследований и анализа в академических, государственных и промышленных исследовательских средах.

Основные преимущества:

Быстрая и легкая подготовка высококачественных образцов для ТЕМ и атомных зондов с использованием ионной колонки Sidewinder HT

Ультравысокое разрешение изображений: Используйте электронную колонку Thermo Scientific NICol для выдающейся производительности на широком спектре образцов, включая магнитные и непроводящие материалы.

Полная информация о образце: Получение детального, четкого и беззарядного контраста благодаря интегрированным детекторам внутри колонки и под объективом.

Мультимодальная информация о подповерхности и 3D: Доступ к высококачественным данным с точным нацеливанием на области интереса с использованием опционального программного обеспечения AS&V4.

Точная навигация по образцам: Настройка навигации в соответствии с конкретными потребностями приложения с помощью высокофлексибельной стадии 110 мм и камеры Thermo Scientific Nav-Cam в камере.

Изображение и паттернизация без артефактов: Использование специальных режимов, таких как DCFI, подавление дрейфа и режимы Thermo Scientific SmartScan, для чистого изображения и паттернизации.

Гибкая конфигурация DualBeam: Оптимизация решений для удовлетворения различных требований приложений благодаря гибкой конфигурации DualBeam.