Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр K-Alpha

РФЭС для повышения производительности

 K-Alpha обеспечивает значительно улучшенную спектроскопическую производительность. Решения и концепция прибора приводит к более быстрому времени анализа, улучшенному обнаружению элементов и возможности получения данных с более высоким разрешением, что обеспечивает лучшую идентификацию химического состояния.

Аналитические опции включают модуль вакуумной передачи для перемещения чувствительных к воздуху образцов из перчаточного ящика в систему и модуль наклона для сбора данных ARXPS. Оснащенный системой данных Thermo Scientific™ Avantage, полной программной системой анализа поверхности, K-Alpha имеет ряд программных функций, предназначенных для оптимизации интерпретации данных, отчетности и удобства использования. Система K-Alpha XPS отвечает требованиям как опытных аналитиков XPS, так и новичков в методе, объединяя высокопроизводительное профилирование XPS и с интеллектуальной автоматизацией и интуитивно понятным управлением.

Мощная производительность

• Спектроскопия локальной области (РФЭС микроскопия)
• Профилирование по глубине ионным трафление
• Микро-сфокусированный монохроматор
• Построение карт
• Спектроскопия химического состояния с высоким разрешением
• Анализ диэлектриков
• Количественная химическая визуализация

Непревзойденная простота использования

• Захват — спектры, изображения, профили, линейное сканирование
• Интерпретация — идентификация элементарного и химического состояния
• Обработка - Количественная идентификация, пиковая подгонка, отображение профиля в режиме реального времени, обработка спектрального изображения, PCA, фазовый анализ, TFA, NLLSF, удаление PSF, наложения оптических/РФЭС изображений
• Отчетность - автоматическая генерация отчетов с простым экспортом в другие пакеты программного обеспечения
• Управление — все оборудование управляется из программного интерфейса Avantage
• Avantage Indexer — управление архивом данных
• Журнал аудита
• Ведение журнала производительности системы
• Калибровка по требованию
• Полностью удаленная работа при необходимости

Основные свойства

• Анализатор — полусферический анализатор с двойной фокусировкой на 180° и 128-канальным детектором
• Источник рентгеновского луча - микрофокусированный монохроматор Al Ka с переменным размером пятна
• Ионный источник — Диапазон энергии 100-4000 эВ
• Компенсация заряда
• Размер образца— 4-осевой манипулятор, площадь образца 60 x 60 мм, максимальная толщина образца 20 мм
• Опции – модуль переноски, модуль наклона для ARXPS, модуль смещения образца